Edxrf Spektrometresi

Bir örnekten üretilen karakteristik X-ışınlarını tespit ederek elemental analiz yapmak için bir EDS sistemi olan JED-2300 analiz istasyonu Plus, elektron optikleri ve ED'lerinde JEOL deneyimi kullanılarak “gözlemden analize kesintisiz” tasarım kavramına dayanarak geliştirilmiştir.

Bu EDS sistemi, anlaşılması kolay bir kullanıcı arayüzü ile kapsamlı veri yönetimi (mikroskop görüntüleri ve röntgen verileri) için SEM'lerimiz, FIB-SEMS ve TEM'lerimizle tamamen entegre edilmiştir.

Motor tahrik aşamaları ile donatılmış FIB-SEM sistemleri için, geniş alanlarda veri yönetimi, farklı büyütme veya farklı aşama pozisyonuna sahip mikroskop görüntüleri ve temel haritaların yerleri gibi görselleştirilmiş işlemlerle kolaylaştırılmıştır.

♦ Çalışma simgeleri

Soldan sağa, veri toplamanın her adımında kullanıcıya yönlendiren simgeler düzenlenmiştir.Ayrıca, görsel anlayış için her simgenin işlevleri görüntülenir.

♦ Dizinlenmiş resim ekranı

Operatör, alınan verilere endeksli görüntü ekranından hızlı bir şekilde erişebilir.

♦ Analiz verilerinin listesi

Hızlı erişim için görüntüler ve analiz sonuçları aynı klasöre otomatik olarak kaydedilir.Operatör dizinli görüntü ekranında herhangi bir alanı seçtiğinde, ilgili alanlar için veriler analiz verileri listesinde görüntülenecek ve böylece veri yönetimini basitleştirecektir.
Bi X-ışını çizgilerinin tepe şekli, edinilen spektrum (pembe) ile hesaplanan spektrum (mavi) arasında farklı olduğu bulunmuştur.

BI tepe konumunun yeniden incelenmesi Pb varlığını gösterdi.Analiz sonuçlarına Pb eklendiğinde, iki tepe şekli eşleşti.Bu sonuçtan, Pb'nin numunede bulunduğu doğrulandı.