Edxrf Spektrometresi

Her saniye süreç ve kalite kontrolü için önemlidir. Test sonuçlarına, numunenin alındığı andan itibaren acilen gereklidir. XRF2501, örnekleri yüklemenize, düğmeye dokunmanıza ve saniyeler içinde yüksek kaliteli sonuçlar almanıza olanak tanıyan basit ve sezgisel bir arayüzle donatılmıştır.

AAS, AFS, ICP ve ICP-MS analiz teknolojisi ile karşılaştırıldığında, XRF2501'in numuneleri çözmek ve sindirmek veya kimyasal reaktif kullanmaya gerek yoktur. Analiz hızı, numuneleri yok etmeden hızlıdır. XRF2501, büyük veya küçük katı veya sıvı, preslenmiş veya toz olsun, örnekleri analiz etmek için kullanılabilir.

Geniş Uygulanabilirlik:
Katı, sıvı, toz ve partikül numuneleri için uygundur.

Kolay Çalışma:
Karmaşık numune ön işlemesine gerek yoktur. Kullanıcıların yalnızca örnekleri test alanına koyması ve analizi tamamlamak için Başlat'ı tıklamanız gerekir.

Yüksek verimlilik:
Tek numune analizi için 1-15 dakika (gerektiği gibi ayarlanabilir).

Modüler Tasarım:
Gerektiğinde ücretsiz kombinasyon çeşitli kullanım senaryolarına uyur.

Düşük Maliyet:
Kimyasal ve diğer sarf malzemeleri gerekmez ve vakum modunda helyum tüketilmez.

En iyi çözünürlük ve CR:
En iyi sayım oranı ve enerji çözünürlüğü ile Almanya'dan yeni nesil vitus silikon sürüklenme dedektörünü benimseyin. XRF2501'in yüksek stabiliteye ve hassasiyete sahip olmasını sağlayarak 50W güç optik tüp çıkışını tam olarak kullanın.

Geniş menzil:
NA-U'dan gelen tüm elementler, PPM arasında%100 arasında değişen konsantrasyonlarda test edilir.

Güvenli Çalışma:
Enstrümanın test odası, kalın bakır, elektronik kilitleme tasarımı ve yazılım kesintisi de dahil olmak üzere üçlü koruma önlemlerini benimser ve kesinlikle herhangi bir test ortamında X-ışını sızıntısı sağlamaz.