Optik Mikroskop

Tescan Mira’nın 4. nesil tarama elektron mikroskobu (SEM), FEG Schottky elektron emisyon kaynağı ile SEM görüntüleme ve canlı elemental kompozisyon analizini Tescan’ın Essence ™ yazılımının tek bir penceresinde birleştirir. Bu kombinasyon, numuneden hem morfolojik hem de element verilerinin elde edilmesini önemli ölçüde basitleştirerek Mira SEM'i kalite kontrol, başarısızlık analizi ve araştırma laboratuvarlarında rutin malzeme incelemesi için etkili bir analitik çözüm haline getirir.

SEM görüntülemeyi tek bir Essence ™ yazılım penceresinde elemental kompozisyon analizi ile verimli bir şekilde birleştiren tamamen entegre Tescan Essence ™ EDS içeren analitik platform.

Tescan’ın uçuş ışığı izleme ™ tarafından desteklenen benzersiz arpertureless optik tasarımı sayesinde optimum görüntüleme ve analitik koşullar derhal mevcuttur.

Benzersiz geniş alan optik ™ tasarımı nedeniyle ek bir optik navigasyon kamerasına ihtiyaç duymadan 2 × gibi düşük büyütmelerde numunede zahmetsiz ve hassas SEM navigasyonu.

Şarj ve ışına duyarlı örnekleri gözlemlemek için standart bir özellik olarak SingleVac ™ modu.

Bir kullanıcının deneyim düzeyine bakılmaksızın zahmetsiz işlem için tasarlanmış sezgisel ve modüler Essence ™ yazılımı.

ESSENCE ™ 3D çarpışma modeli ile sahne ve numune hareket halindeyken oda monte dedektörlerin nihai güvenliği garanti edilir.

Daha düşük hızlanma voltajlarında görüntüleme performansını artırmak için ışın yavaşlama teknolojisi de dahil olmak üzere isteğe bağlı sütun içi SE ve BSE dedektörleri mevcuttur.

İsteğe bağlı olarak tam entegre dedektörlerin (örn. CL, su soğutmalı BSE veya Raman spektrometresi) en geniş seçimi ile donatılabilen modüler analitik platform.