Optik Mikroskop

Soğuk Alan Emisyon kaynağı, küçük kaynak boyutu ve enerji yayılımıyla yüksek çözünürlüklü görüntüleme için idealdir. Yenilikçi CFE Tabancası teknolojisi, üstün ışın parlaklığı ve kararlılığıyla üstün FE-SEM'e katkıda bulunarak yüksek çözünürlüklü görüntüleme ve yüksek kaliteli elementel analiz sağlar.

SU9000II, cihazın en yüksek performans seviyelerinde istikrarlı veri edinimi sağlamak için optik sistemin otomatik olarak ayarlanmasını sağlayan yeni yetenekler ve özellikle sıralı veri toplama olmak üzere otomatik veri edinimi sağlamak için bir seçenek olarak yeni EM Flow Creator yazılım paketini sunar.

Ayrıca benzersiz optik sistem tasarımı, EELS'in ileri malzeme analizi yapma kabiliyetine sahiptir.

Özellikler

Yeni tasarlanan CFE GUN, yüksek parlaklık ve son derece kararlı bir emisyon akımı sağlar.
Işınlara duyarlı malzemeleri gözlemlemek için üstün düşük kV performansı. 1,0 kV iniş geriliminde bile 0,7 nm'lik SE çözünürlüğü (yavaşlama özelliği seçeneğiyle) garanti edilir.

Optik sistemin otomatik olarak ayarlanmasını sağlayan yeni yetenekler ve otomatik veri toplamayı sağlayan isteğe bağlı bir işlev, sıralı veri toplanmasına olanak tanır.

Numune kontaminasyonunu azaltmak için UHV seviyelerine izin veren geliştirilmiş vakum teknolojisi.

Çok çeşitli çevre koşullarında yüksek çözünürlüklü görüntülemeye olanak sağlamak için hem üstün dayanıklılığa hem de stabiliteye sahip, yüksek düzeyde tasarlanmış cihaz muhafazası.

Yeni tasarlanmış objektif lens, düşük hızlanma voltajında ​​​​yüksek çözünürlüklü görüntülemeye olanak sağlar.

Yandan girişli numune değişim sistemi, numuneleri değiştirmek için gereken süreyi azaltarak ve numuneyi otomatik olarak mevcut WD'ye konumlandırarak verimi artırır.