Optik Mikroskopi

Spotlight ™ IR Mikroskop Sistemleri, çeşitli örnek türlerinden yüksek kaliteli, tekrarlanabilir veriler üreterek genişleyen bir laboratuvarın zorluklarını karşılamak için tasarlanmıştır.Spot ışığı 400 ft-IR görüntüleme sistemi, yüksek hassasiyet ve hızlı görüntülemeyi kullanım kolaylığı ile birleştirir.Büyük örnek alanları yüksek uzamsal çözünürlükte hızla görüntüleme yeteneği, FT-IR mikroskopisini yeni uygulamalara genişletir.

Genel bakış

Spotlight 400 ft-IR görüntüleme sistemi, akıllı otomasyon ve sofistike analiz yeteneklerine izin vermek için son teknoloji teknolojisi ile tasarlanmıştır.Sistem, bir dizi benzersiz üretkenlik aracı içerir ve FT-IR spektral verilerine dayalı malzemelerin bileşimini görselleştirmek için son derece küçük örneklerin yüksek çözünürlüklü kızılötesi görüntülerinin toplanmasını sağlayan bir ATR görüntüleme sistemi içerir.

Spotlight 400 sisteminin benzersiz özellikleri şunları içerir:

6.25, 25 veya 50 mikron piksel çözünürlükleri veren örnek alanlardan yüksek kaliteli spektral üretim ve görüntüler

İlgilenilen Bölge (YG) Bir kerede birden fazla parçacık ve katman analizinin kolaylığına izin verecek bulgu

Spectrum 3 ™ Sistemi ile genişletilmiş aralık ortasında IR, IR veya çift aralık FT-IR ile kullanılacak yapılanabilirlik, mümkün olan en kısa sürede numunelerden maksimum bilgi vermek için.

Spectrum 3 ™ Sistemleri ile IR, IR yakınında veya çift aralıklı FT-IR ile kullanılacak yapılanabilirlik, mümkün olan en kısa sürede numunelerden maksimum bilgi vermek için.