Spektrometre Ölçüm Cihazı

DSR300 Serisi Mikro-Nano Spektral Yanıt Ölçüm Sistemi, yüksek hassas spektral tarama ve fotoğraf akımı tarama ölçümü sağlayan düşük boyutlu malzemelere ayrılmıştır. 40 m Algılama Noktası Sistemin minimum beden 100 μm örneğini ölçmesini sağlamak. Ultra yüksek stabilite ışık kaynağı yüksek doğruluk sağlar; Çeşitli dedektörleri ölçmek için çoklu ışık kaynağı sisteme entegre edilebilir. Dostça yazılımın kullanımı kolaydır ve çalışacak cihazı otomatik olarak kontrol eder.

İşlev:

■ Spektral Sorumluluk

■ Harici kuantum verimliliği

■ Önyargı Voltajı BT eğrisi

■ LBIC Eşleme

■ Yanıt doğrusallık testi

Ana teknik parametre

Işık kaynağı

Xenon Işık Kaynağı

Spektral Aralık: 250 - 1800 nm

İstikrarsızlık: ＜% 1

Süper Kontinuum Işık Kaynağı

Spektral Aralık: 400

- 2400 nm

Frekans: 0.01 -

200 MHz

Nabız genişliği: 100 Ps

CW lazer

İsteğe bağlı dalga boyu: 405 nm, 532 nm, 633

NM, 808 nm, 980 nm;

İstikrarsızlık: ＜% 1

Darbeli lazer

İsteğe bağlı dalga boyu: 375 nm, 405 nm, 488

NM, 785 nm, 976 nm; Nabız genişliği: 100 Ps

Frekans: 1-20 MHz

Mikro mercek

10x objektif lens (standart)

Çalışma mesafesi ＞ 17 mm

NA: 0.42

Spektral Aralık: 350

- 800 nm

50x objektif lens

Çalışma mesafesi ＞ 17 mm

NA: 0.42

Spektral Aralık: 480

- 1800 nm

50x UV objektif lens

Çalışma mesafesi ＞ 12 mm

NA: 0.42

Spektral Aralık: 240 - 500 nm

40X Yansıtıcı Objektif Lens

Çalışma mesafesi ＞ 7.8 mm

NA: 0.5

Spektral Aralık: 200 nm - 20 um

Veri toplama birimi

Kilitleme amplifikatörü

Frekans: 20 Hz - 1 KHz Drift: ＜ 0.1 °/℃ 10 kHz voltajının veya akım giriş modu 1nv ila 1V ile tam ölçekli duyarlılık akım kazancı 106 veya 108 v/a dinamik rezerv> 100 dB ekran: x 、 y 、 r 、 θ