Kök Mikroskop

Fonksiyonel malzemelerin, ince filmlerin ve sentetik parçacıkların nano ölçekli morfolojik, kimyasal ve yapısal özelliklerinin multimodal karakterizasyonu için, öne çıkan 4D-STEM performansı ve benzeri görülmemiş kullanılabilirlik ile.

Kırınım görüntüleme, EDS edinme ve ışın kenarı ile taramanın senkronizasyonu.
Entegre, Yakın Gerçek Zamanlı 4D-STEM Veri Analizi ve İşleme
Performans Elektron Beam Öncelik ve Yakın UHV'den yararlanır
STEM kullanıcı deneyimine yeni bir yaklaşım

Analitik 4D kök

Elektron ışını - numune etkileşiminin tam resmi

4D-STEM, morfoloji, kimya ve yapı gibi malzeme özelliklerinin gerçek nano ölçekli, multimodal karakterizasyonu için tercih edilen mikroskopi yöntemidir. STEM veri kümesindeki her pikselde, Tescan tensörü bir kırınım paterni ve bir EDS spektrumu elde eder, hızlı ve mükemmel senkronize edilir. Birlikte, kırınım ve spektroskopi verileri, çok çeşitli malzeme özelliklerinin türetilebileceği elektron ışını - numune etkileşiminin tam resmini kapsar.

4D-STEM verilerinin gerçek zamanlı analizi ve işlenmesi

Tescan Tensor'un gerçekten benzersiz bir özelliği, Tensor’un büyük ölçekli tarama elektron kırınım veri kümelerinin gerçek zamanlı işlenmesi ve analizi için entegre platformudur.

STEM optikleri veya 4D-STEM veri analizi ve işleme sonrası uzman bilgisini gerektirmeden malzeme bilim adamlarına, yarı iletken araştırmacılara ve başarısızlık analizlerine 4D-STEM ölçümleri getirir.

Gelişmiş kullanıcılara, her bir STEM veya 4D-STEM ölçümü için önceden ayarlanmış optimize edilmiş optik özellikleri tercihlerine göre ayarlama yeteneği ile sunulmaktadır. Üstelik,