X-Işını Difraktometresi

Benchtop tozu X-ışını kırınımı (XRD) alet
Poli-kristal malzemelerin nitel ve kantitatif faz analizi
Miniflex Benchtop X-ışını difraktometresi, kristalin faz tanımlama (faz ID) ve nicelleştirme, yüzde (%) kristallik, kristalit boyutu ve suş, kafes parametre arıtma, rietveld arıtma ve moleküler yapı belirleyebilen çok amaçlı bir toz kırınım analitik cihazdır. Araştırmada, özellikle maddi bilim ve kimyada ve araştırma ve kalite kontrolü için endüstride yaygın olarak kullanılmaktadır. Onlarca yıl önce orijinal miniflex XRD sisteminin tanıtımı ile başlayan Rigaku'dan miniflex seri X-ışını kırınım analizörlerinin en yeni ekidir.

HPAD dedektörü ile X-ışını tozu kırınımı
Miniflex XRD sistemi, mevcut 600 W X-ışını kaynağı ve yeni 8 konumlu otomatik örnek değiştirici ile birlikte Hypix-400 MF 2D hibrid piksel dizi dedektörü (HPAD) dahil olmak üzere yenilikçi teknoloji ilerlemeleri yoluyla hız ve hassasiyet sağlar.

Hibrid Piksel Dizi Detektörü (HPAD)
Bu yeni doğrudan foton sayma dedektörü, yüksek hızlı, düşük gürültülü veri toplama sağlar ve konvansiyonel XRD analizi için 0D ve 1D modlarda ve kaba tane boyutu ve/veya tercih edilen yönelime sahip numuneler için 2D modda çalıştırılabilir.

XRD aksesuarları miniflex'inizi geliştirir
Çeşitli X-ışını tüpü anotları-çeşitli sıcaklık ekleri ile birlikte çeşitli numune rotasyonu ve konumlandırma aksesuarları ile birlikte-miniflex X-ışını kırınımı (XRD) sisteminin zorlu niteliksel gerçekleştirecek kadar çok yönlü olduğundan emin olmak için sunulur.